國內外型號參數對比報告

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IRLM110ATF與VBJ1101M參數對比報告

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N溝道功率MOSFET參數對比分析報告: IRLM110ATF與VBJ1101M

一、產品概述

 

IRLM110ATF:onsemi(原Fairchild)N溝道100V功率MOSFET,採用先進MOSFET技術。特點包括:雪崩耐量技術、堅固的柵極氧化層、低輸入電容、優化的柵極電荷、擴展的安全工作區(SOA)以及低漏電流。封裝:SOT-223。適用於通用開關應用。

 

VBJ1101M:VBsemi N溝道100V溝槽(Trench)MOSFET,具備低導通電阻特性。特點包括:符合IEC 61249-2-21無鹵標準、符合RoHS指令、最高結溫175°C。封裝:SOT-223。適用於需要高效率、小尺寸封裝的電源管理應用。

 

二、絕對最大額定值對比

 

參數


 

符號

 

IRLM110ATF

 

VBJ1101M

 

單位

 

漏-源電壓


 

VDS/ VDSS

 

100

 

100

 

V

 

柵-源電壓


 

VGS

 

±20

 

±20

 

V

 

連續漏極電流 (Tc=25°C)


 

ID

 

1.5

 

5.0

 

A

 

連續漏極電流 (Tc=70°C)


 

ID

 

1.18

 

3.5

 

A

 

脈衝漏極電流


 

IDM

 

12

 

25

 

A

 

最大功率耗散 (Tc=25°C)


 

PD

 

1.5 (注1)

 

3.3 (注2)

 

W

 

溝道/結溫


 

Tch/TJ

 

150

 

175

 

°C

 

存儲溫度範圍


 

Tstg

 

-55 ~ +150

 

-55 ~ +175

 

°C

 

雪崩能量(單脈衝)


 

EAS

 

未提供

 

11

 

mJ

 

雪崩電流


 

IAR/IAS

 

1.5

 

15

 

A

 

分析:兩款器件耐壓等級相同(100V)。VBJ1101M 在電流能力方面具有壓倒性優勢,其連續電流(5A vs 1.5A)和脈衝電流(25A vs 12A)均顯著高於IRLM110ATF。同時,VBJ1101M 的允許最高結溫更高(175°C vs 150°C),功耗能力在同等條件下也更強。IRLM110ATF 則強調了其雪崩耐量技術。

 

三、電特性參數對比

3.1 導通特性

 

參數


 

符號

 

IRLM110ATF

 

VBJ1101M

 

單位

 

漏-源擊穿電壓


 

V(BR)DSS

 

100 (最小)

 

100 (最小)

 

V

 

柵極閾值電壓

 

VGS(th)

 

2.0 ~ 4.0 (VDS

=5V)


 

1.5 ~ 3.0 (VDS

=VGS)

 

V

 

導通電阻 (VGS

=10V)


 

RDS(on)

 

0.44 最大 (ID

=0.75A)

 

0.100 典型 (ID

=6.0A)

 

Ω

 

導通電阻 (VGS

=4.5V)


 

RDS(on)

 

未提供

 

0.120 典型 (ID

=3.1A)

 

Ω

 

正向跨導

 

gfs

 

0.22 典型 (ID

=0.75A)


 

25 典型 (ID

=4.0A)

 

S

 

分析:VBJ1101M 的導通特性全面領先。其柵極閾值電壓範圍更低,更易在低壓下驅動。最關鍵的是,其導通電阻 RDS(on) 遠低於 IRLM110ATF(0.1Ω vs 0.44Ω),這意味著在相同電流下,VBJ1101M 的導通損耗將顯著降低。其跨導也高出兩個數量級,表明柵極電壓對溝道電流的控制能力更強。

 

3.2 動態特性

 

參數


 

符號

 

IRLM110ATF

 

VBJ1101M

 

單位

 

輸入電容


 

Ciss

 

235

 

未提供

 

pF

 

輸出電容


 

Coss

 

65

 

未提供

 

pF

 

反向傳輸電容


 

Crss

 

25

 

未提供

 

pF

 

總柵極電荷


 

Qg

 

8.6

 

18 ~ 27

 

nC

 

柵-源電荷


 

Qgs

 

2.2

 

3.4 (典型)

 

nC

 

柵-漏(米勒)電荷


 

Qgd

 

6.5

 

5.3 (典型)

 

nC

 

分析:IRLM110ATF 的總柵極電荷更低(8.6nC vs 18~27nC),柵極驅動損耗和驅動電路設計難度可能更低。VBJ1101M 提供了詳細的柵極電荷參數,其米勒電荷Qgd典型值略低。

 

3.3 開關時間

 

參數


 

符號

 

IRLM110ATF

 

VBJ1101M

 

單位

 

開通延遲時間


 

td(on)

 

25 (典型)

 

10 ~ 20

 

ns

 

上升時間


 

tr

 

45 (典型)

 

10 ~ 20

 

ns

 

關斷延遲時間


 

td(off)

 

25 (典型)

 

25 ~ 50

 

ns

 

下降時間


 

tf

 

8 (典型)

 

12 ~ 24

 

ns

 

分析:從文檔提供的典型值範圍看,IRLM110ATF 的上升時間和下降時間參數表現更優,尤其是在下降時間上(8ns vs 12~24ns),這可能有利於降低關斷損耗。VBJ1101M 的開通延遲時間範圍更短。

 

四、體二極體特性

 

參數


 

符號

 

IRLM110ATF

 

VBJ1101M

 

單位

 

二極體正向壓降

 

VSD

 

0.9 典型 (IS

=2.3A)


 

0.8 ~ 1.2 (IS

=1.7A)

 

V

 

反向恢復時間


 

trr

 

未提供

 

50 ~ 80

 

ns

 

反向恢復電荷


 

Qrr

 

未提供

 

未提供

 

μC

 

分析:兩款器件的體二極體正向壓降處於同一水準。VBJ1101M 提供了反向恢復時間參數,對於需要考慮體二極體反向恢復的應用(如同步整流)更具參考價值。

 

五、熱特性

 

參數


 

符號

 

IRLM110ATF

 

VBJ1101M

 

單位

 

結-殼熱阻


 

RθJC

 

未提供

 

未提供

 

°C/W

 

結-環境熱阻

 

RθJA

 

180 (PCB Mount)


 

75 ~ 90 (穩態)

 

°C/W

 

分析:VBJ1101M 文檔提供了更詳細的熱阻數據(瞬態和穩態),其標稱的穩態結到環境熱阻(75-90°C/W)優於 IRLM110ATF 的典型值(180°C/W),結合其更高的功耗額定值,表明 VBJ1101M 在散熱設計上可能更具優勢或更易於管理。

 

六、總結與選型建議

 

IRLM110ATF 優勢


 

VBJ1101M 優勢

 


◆ 更低的柵極電荷(8.6nC),驅動更簡單



◆ 更優的開關時間典型值(tr=45ns, tf =8ns)



◆ 具備雪崩耐量技術,抗衝擊能力強

 


◆ 極高的電流能力(ID=5A vs 1.5A)



◆ 極低的導通電阻(0.1Ω vs 0.44Ω),導通損耗小



◆ 更高的最大結溫(175°C),工作更可靠



◆ 更高的功率耗散能力(3.3W vs 1.5W)



◆ 更好的熱阻參數,散熱性能更優



◆ 符合無鹵等環保標準



選型建議

 

選擇 IRLM110ATF:適用於對柵極驅動功率敏感、工作頻率較高且電流需求較小(<1.5A)的場合,或對雪崩能量有明確要求的低功率應用。

 

選擇 VBJ1101M:強烈推薦用於需要處理更大電流(最高5A連續)、追求高效率(低RDS(on))、或工作環境溫度較高的應用。其在電流能力、導通損耗和熱性能上的巨大優勢,使其在大多數100V、中低功率開關應用中成為更具競爭力的選擇,能提供更高的功率密度和可靠性。

 

備註:本報告基於 IRLM110ATF(onsemi)和 VBJ1101M(VBsemi)官方數據手冊生成。所有參數值均來源於原廠數據手冊,設計選型請以官方最新文檔為准。部分參數測試條件不同,直接對比時需謹慎。


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