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FQB13N10LTM与VBL1101M参数对比报告

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N沟道功率MOSFET参数对比分析报告: FQB13N10LTM与VBL1101M

一、产品概述

 

FQB13N10LTM:Fairchild(现为安森美 onsemi)N沟道功率MOSFET,采用平面条状DMOS(QFET)技术,耐压100V,具有低导通电阻、低栅极电荷和快速开关特性,保证雪崩耐量。最高结温175°C。封装:TO-263(D2PAK)。适用于高效率开关DC/DC转换器、DC电机控制等低电压应用。

 

VBL1101M:VBsemi N沟道100V沟槽(Trench)功率MOSFET,具有低热阻封装,100%栅极电阻测试,最高结温175°C。封装:TO-263(D2PAK)。适用于隔离式DC/DC转换器。

 

二、绝对最大额定值对比

 

参数


 

符号

 

FQB13N10LTM

 

VBL1101M

 

单位

 

漏-源电压


 

VDSS

 

100

 

100

 

V

 

栅-源电压


 

VGSS

 

±20

 

±20

 

V

 

连续漏极电流 (Tc=25°C)


 

ID

 

12.8

 

20

 

A

 

脉冲漏极电流


 

IDM

 

51.2

 

70

 

A

 

最大功率耗散 (Tc=25°C)


 

PD

 

65

 

105

 

W

 

沟道/结温


 

Tch/TJ

 

150

 

175

 

°C

 

存储温度范围


 

Tstg

 

-55 ~ +175

 

-55 ~ +175

 

°C

 

雪崩能量(单脉冲)


 

EAS

 

95

 

200

 

mJ

 

雪崩电流


 

IAV/IAS

 

12.8

 

20

 

A

 

分析:VBL1101M 在电流能力上优势明显,连续电流和脉冲电流额定值(20A/70A)均高于 FQB13N10LTM(12.8A/51.2A),同时最大功率耗散也更高(105W vs 65W)。两者耐压相同,但 VBL1101M 的雪崩能量为后者的两倍以上,且在最高工作结温上略有优势(175°C vs 150°C)。

 

三、电特性参数对比

3.1 导通特性

 

参数


 

符号

 

FQB13N10LTM

 

VBL1101M

 

单位

 

漏-源击穿电压


 

V(BR)DSS

 

100 (最小)

 

100 (最小)

 

V

 

栅极阈值电压


 

VGS(th)

 

1.0 ~ 2.0

 

1 ~ 3

 

V

 

导通电阻 (VGS=10V)


 

RDS(on)

 

0.18 最大 (ID=6.4A)

 

0.100 典型 (ID=20A)

 

Ω

 

正向跨导

 

gfs

 

9.5 典型 (ID=6.4A)


 

25 典型 (ID=20A)

 

S

 

分析:在典型测试条件下,VBL1101M 的导通电阻(0.100Ω)显著低于 FQB13N10LTM(0.18Ω),且其跨导(25S)也远高于后者(9.5S),表明其导通能力强,栅极控制效率高。VBL1101M的阈值电压范围更宽。

 

3.2 动态特性

 

参数


 

符号

 

FQB13N10LTM

 

VBL1101M

 

单位

 

输入电容

 

Ciss

 

400 典型/520 最大


 

950 典型

 

pF

 

输出电容

 

Coss


 

95 典型/125 最大

 

280 典型

 

pF

 

反向传输电容

 

Crss


 

20 典型/25 最大

 

110 典型

 

pF

 

总栅极电荷

 

Qg


 

8.7 典型/12 最大

 

28 典型

 

nC

 

栅-源电荷

 

Qgs


 

2.0 典型

 

4.8 典型

 

nC

 

栅-漏(米勒)电荷


 

Qgd

 

5.3 典型

 

15 典型

 

nC

 

分析:FQB13N10LTM 在动态参数上优势突出,其输入、输出及反向传输电容均远低于 VBL1101M,总栅极电荷(8.7nC)更是显著低于后者(28nC)。这意味着 FQB13N10LTM 的栅极驱动损耗更低,开关速度潜力更大。

 

3.3 开关时间

 

参数


 

符号

 

FQB13N10LTM

 

VBL1101M

 

单位

 

开通延迟时间


 

td(on)

 

7.5 典型/25 最大

 

8 典型

 

ns

 

上升时间

 

tr

 

220 典型/450 最大


 

120 典型

 

ns

 

关断延迟时间

 

td(off)

 

22 典型/55 最大


 

25 典型

 

ns

 

下降时间

 

tf

 

72 典型/150 最大


 

50 典型

 

ns

 

分析:从典型值看,FQB13N10LTM 的开通延迟更短,而 VBL1101M 的上升时间和下降时间更短。综合来看,两款器件的开关性能各有所长,FQB13N10LTM 在延迟方面可能略优,VBL1101M 在电压/电流的转换速度上可能更快。

 

四、体二极管特性

 

参数


 

符号

 

FQB13N10LTM

 

VBL1101M

 

单位

 

二极管正向压降

 

VSD

 

1.5 最大 (IS=12.8A)


 

1.0 典型/1.5 最大 (IF=65A)

 

V

 

反向恢复时间

 

trr

 

75 典型

 

130 典型/200 最大


 

ns

 

反向恢复电荷

 

Qrr

 

0.17 典型

 

0.52 典型/1.2 最大


 

μC

 

峰值反向恢复电流


 

IRM

 

未提供

 

8 典型/12 最大

 

A

 

分析:VBL1101M 体二极管的电流能力(连续65A)远超 FQB13N10LTM(12.8A)。虽然 VBL1101M 的反向恢复时间与电荷参数数值上更大,但这与其测试条件(电流更大)有关,需结合具体应用评估。FQB13N10LTM 提供了更优的典型反向恢复参数。

 

五、热特性

 

参数


 

符号

 

FQB13N10LTM

 

VBL1101M

 

单位

 

结-壳热阻


 

RθJC

 

2.31 最大

 

0.4 最大

 

°C/W

 

结-环境热阻 (PCB Mount)


 

RθJA

 

40 最大

 

40 最大

 

°C/W

 

分析:VBL1101M 的结-壳热阻(0.4°C/W)显著低于 FQB13N10LTM(2.31°C/W),这是其能够承受更高功率耗散(105W vs 65W)的关键。优异的导热性能使其在大电流或恶劣散热环境下更具优势。

 

六、总结与选型建议

 

FQB13N10LTM 优势


 

VBL1101M 优势

 


◆ 极低的栅极电荷(8.7nC)和电容,驱动损耗低



◆ 更快的典型开关延迟时间(td(on), td(off))



◆ 体二极管反向恢复特性更优(Qrr=0.17μC)



◆ 提供了雪崩电流(IAR)参数



 


◆ 更高的连续与脉冲电流能力(20A/70A)



◆ 更低的典型导通电阻(0.100Ω)



◆ 更高的单脉冲雪崩能量(200mJ)



◆ 更优异的热性能(RθJC=0.4°C/W)



◆ 更高的最大功率耗散(105W)



◆ 体二极管载流能力更强(65A)



选型建议

 

选择 FQB13N10LTM:当应用对开关频率和驱动效率非常敏感,需要极低的栅极驱动损耗和更快的开关响应时,例如高频DC/DC变换器。其优秀的体二极管恢复特性也适用于对续流二极管性能要求高的场合。

 

选择 VBL1101M:当应用侧重于高电流输出、低导通损耗和高可靠性。其强大的电流能力、更低的RDS(on)、卓越的散热性能(低热阻)以及高雪崩能量,使其非常适合用于大功率、高密度的隔离电源模块或其它要求长期可靠运行的大电流场景。

 

备注:本报告基于 FQB13N10LTM(Fairchild/onsemi)和 VBL1101M(VBsemi)官方数据手册生成。所有参数值均来源于原厂数据手册,且测试条件可能不同,设计选型请以官方最新文档为准并进行实际验证。


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